6月4、5日に開催された2026年度 非破壊検査総合シンポジウムにて電気電子工学科の小松原助教が若手研究発表部門 【最優秀賞】を受賞されました！
*非破壊検査では、様々な物理現象を用いて、被検査物を壊さずに、内部や表面付近のきず・欠陥を検査し、その位置や形状・寸法を評価します。最近はきずを見つける検査性能の向上を図るだけでなく、ものを大事にして長期間安全に有効利用する観点から、材料の疲労や劣化の評価、余寿命の評価まで行う研究活動が始まっております（日本非破壊検査協会学術活動より）
講演題目：小口径鋼管を対象とした渦電流探傷プローブの小型化の検討