公益財団法人発明協会主催の令和2年度九州地方発明表彰において、
電気電子工学科の木本教授の研究チームが、大分県知事賞を受賞しました。
本表彰は、優れている特許技術を表彰するもので、
株式会社デンケンと共同開発しているIC外観検査装置の検査システムの特許技術が高く認められました。 受賞タイトル:AI画像検査装置(特許第6630912号)
http://koueki.jiii.or.jp/hyosho/chihatsu/R2/jusho_kyushu/index.html

開発したIC外観検査装置の概要は以下の研究室紹介を参照してください。
http://ee.oita-ct.ac.jp/staff/kimoto